Difratômetro de Raios-X
XRD-6000

O XRD-6000 oferece soluções poderosas para problemas analíticos usuais, desde análises qualitativas de rotina, passando pelas análises quantitativas de fases até análises cristalográficas mais exigentes.

Operando em software Windows98NT®, totalmente integrado, oferece soluções personalizadas para a maioria das análises de fases sólidas, tais como sílica livre, autenita retida e relação rutilo/anatase, permitindo uma operação em um nível de simplicidade até então inexistente.

Quando o seu instrumento exige modificações e expansões relativas a novos desenvolvimentos, o XRD-6000 possibilita, através de sua completa linha de acessórios, o atendimento de suas exigências analíticas, graças a, por exemplo, dispositivos para a determinação de tensões residuais, câmaras de alta e baixa temperaturas, orientação de fibras, análise ambiental, figura de polo, etc.

O XRD-6000, com sua excelente relação custo/beneficio é uma nova referência na difratometria de raios-x.

Através de sua fácil operação e seus módulos de expansão, você pode ficar confiante que o XRD-6000 atenderá suas necessidades analíticas presentes e futuras a um investimento que certamente surpreenderá!

Aplicações
. Identificação de fases cristalinas
. Quantificação de fases cristalinas
. Quantificação de soluções sólidas
. Análise de estrutura cristalina
. Microtensões e tamanho de cristais
. Percentagem de cristalinidade
. Análise de filmes finos
. Orientação de fibras e polímeros
. Análise de tensões residuais
. Análise não-ambiental
. Análise de austenita retida
. Análise de figura de põlo